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[判断题]

再现性通常是由测量设备所造成的波动（）

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发布时间：2022-11-04

更多“再现性通常是由测量设备所造成的波动（）”相关的问题

第1题

再现性：度量不同的操作者在测量过程中所产生的波动。它__使用____测量____所观测到的变异（）

A.不同操作员

B.同一设备

C.同一部件

D.同一场所

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第2题

M车间负责测量机柜的总电阻值.由于现在使用的是自动数字式测电阻仪,不同的测量员间不再有什么差别,但在测量时要先设定初始电压值V,这里对V可以有3种选择方法.作测量系统分析时,使用传统方法,对10个机柜,都用3种不同选择的V值,各测量2次.在术语"测量系统的重复性（Repeatability）"和"测量系统的再现性（Reproducibility）"中,术语"再现性"应这解释（）

A.不使用不同的测量员,就不再有"再现性"误差了

B.不同的设定的V值所引起的变异是"再现性"误差

C.同一个设定的V值,多次重复测量同样一个机柜所引起的变异是"再现性"误差

D.在不同时间周期内,用此测电阻仪测量同一个机柜时,测量值的波动是"再现性"误差

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第3题

测量系统差异有哪些（）

A.不同仪器和夹具间的差异

B.不同使用人员的差异（再现性）

C.使用不同的方法所造成差异

D.不同环境所造成的差异

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第4题

测量设备的（)是指在同一测量条件下，连续测量同一测定量所得到的结果之间相一致的程度。

A.重复性

B.再现性

C.正确度

D.精密度

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第5题

再现性是由不同评价人，用同一测量仪器测量同一零件的同一特性所获得的平均值的变差（）

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第6题

再现性是由不同的评价人使用同一测量仪器，测量同一零件的同一特性时所得到的测量平均值的变差（）

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第7题

由多个操作者采用一种量具，多次测量同一零件的同一特性时所获得的测量值不同，是由于（)。

A.测量系统的R&R

B.量具的重复性

C.测量人员的再现性

D.计量基准偏差

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第8题

再现性主要是度量不同操作者在测量过程中所产生的波动。（）

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第9题

由多个操作者用一量具，多次测量同一零件的同一特性时所获得的测量值不同，是由于（）

A．测量系统的R&R

B．量具的重复性

C．测量人员的再现性

D．计量基准偏差

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第10题

某半导体芯片厂使用光电干涉法测厚仪测量芯片镀膜的厚度，公差限为100050A，生产过程实际标准差σ（P)=15A。测量仪器是数字显示的，考虑可能造成测量系统波动的原因一是不同的测量时刻，二是每次将样件装置于测量底架时的装上卸下的循环。现选用一片芯片，在三个不同时刻各进行装上卸下的3次循环，每次循环重复测量2次，则此时的再现性是指：（）

A.同一时刻同一循环的测量所得结果的一致性

B.同一时刻不同循环的测量所得结果的一致性

C.不同时刻不同循环的测量所得结果的一致性

D.不同时刻同一循环的测量所得结果的一致性

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第11题

某半导体芯片厂使用光电干涉法测厚仪测量芯片镀膜的厚度，公差限为100050A，生产过程实际标准差σ

（P）=15A。测量仪器是数字显示的，考虑可能造成测量系统波动的原因一是不同的测量时刻，二是每次将样件装置于测量底架时的装上卸下的循环。现选用一片芯片，在三个不同时刻各进行装上卸下的3次循环，每次循环重复测量2次，则此时的再现性是指（）

A．同一时刻同一循环的测量所得结果的一致性

B．同一时刻不同循环的测量所得结果的一致性

C．不同时刻不同循环的测量所得结果的一致性

D．不同时刻同一循环的测量所得结果的一致性