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[主观题]

设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为: 其中λ>0未知.从这批器件中任取n只在时刻t=0

设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为:

设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为:    其中λ>0未知.从这批器件中任取

其中设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为:    其中λ>0未知.从这批器件中任取>0未知.从这批器件中任取n只在时刻t=0时投入独立寿命试验.试验进行到预定时间T0结束.此时,有k(0<k<n)只器件失效,试求设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为:    其中λ>0未知.从这批器件中任取的最大似然估计。

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更多“设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为: 其中λ>0未知.从这批器件中任取n只在时刻t=0”相关的问题

第1题

设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为 其中c,θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种

设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为

其中c,θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验.设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn

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第2题

设某种电子元器件的寿命(以小时计)X服从双参数的指数分布,其概率密度为 其中c、θ(c,θ>0)为未知参数.自一批

设某种电子元器件的寿命(以小时计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为

其中c、θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验,设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn,求:(1)求θ与c的最大似然估计;(2)求θ与c的矩估计.

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第3题

设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为 其中c,θ(c,θ>0)为未知参数,自一批这种

设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为

其中c,θ(c,θ>0)为未知参数,自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验,设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn

(1)求θ与c的极大似然估计;(2)求θ与c的矩估计。

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第4题

设元件的寿命T(以小时计)服从指数分布,分布函数为

设元件的寿命T(以小时计)服从指数分布,分布函数为

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第5题

设X表示某种型号的电子元件的寿命(以小时计),它服从指数分布其中θ为未知参数.θ>0.现随机抽取一

设X表示某种型号的电子元件的寿命(以小时计),它服从指数分布

其中θ为未知参数.θ>0.现随机抽取一个容量为9的样本,其样本观察值分别为168,130,169.143,174,198,108,212,252,则未知参数θ的矩估计量为(),θ的矩估计值为().

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第6题

设某种产品的寿命X服从指数分布,其概率密度为其中λ未知。现抽得n个这样的产品,测得其寿命数据为

设某种产品的寿命X服从指数分布,其概率密度为

其中λ未知。现抽得n个这样的产品,测得其寿命数据为X1,X2,...,Xn。试分别求产品平均寿命1/λ,产品失效率λ及产品可靠度P(T>t)=e-λt的矩估计。

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第7题

设总体X服从指数分布,其概率密度为 其中θ>0未知,从总体中抽取一容量为n的样本X1,X2,…,Xn (1)证明 (2)求θ

设总体X服从指数分布,其概率密度为

其中θ>0未知,从总体中抽取一容量为n的样本X1,X2,…,Xn

(1)证明

(2)求θ的置信水平为1-α的单侧置信下限;

(3)某种元件的寿命(以小时计)服从上述指数分布,现从中抽得一容量n=16的样本,测得样本均值为5010(h),试求元件的平均寿命的置信水平为0.90的单侧置信下限

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第8题

设某电子元件的寿命X服从指数分布,其概率密度为 其中λ>0为未知参数,(X1,X2,…,Xn)为来自该总体

设某电子元件的寿命X服从指数分布,其概率密度为

其中λ>0为未知参数,(X1,X2,…,Xn)为来自该总体的样本,求元件在T0时刻仍能正常工作概率的最大似然估计.

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第9题

设X和Y分别表示两个不同电子器件的寿命(以小时计),并设X和Y相互独立,且服从同一分布,其概率密

设X和Y分别表示两个不同电子器件的寿命(以小时计),并设X和Y相互独立,且服从同一分布,其概率密度为

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第10题

设某种仪器的寿命X服从指数分布,其密度函数为 其中λ>0是未知参数.现随机抽取14台,测得寿命(
设某种仪器的寿命X服从指数分布,其密度函数为 其中λ>0是未知参数.现随机抽取14台,测得寿命(

设某种仪器的寿命X服从指数分布,其密度函数为

其中λ>0是未知参数.现随机抽取14台,测得寿命(单位:h)数据如下

试求参数λ的最大似然估计值.

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