设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为 其中c,θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种
设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为
其中c,θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验.设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn.
设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为
其中c,θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验.设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn.
第1题
设某种电子器件的寿命(以h计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为
其中c,θ(c,θ>0)为未知参数,自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验,设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn
(1)求θ与c的极大似然估计;(2)求θ与c的矩估计。
第2题
设某种电子元器件的寿命(以小时计)T服从双参数的指数分布,其概率密度为
其中c、θ(c,θ>0)为未知参数.自一批这种器件中随机地取n件进行寿命试验,设它们的失效时间依次为x1≤x2≤…≤xn,求:(1)求θ与c的最大似然估计;(2)求θ与c的矩估计.
第3题
设某种电子器件的寿命(以小时计)T服从指数分布,概率密度为:
其中>0未知.从这批器件中任取n只在时刻t=0时投入独立寿命试验.试验进行到预定时间T0结束.此时,有k(0<k<n)只器件失效,试求的最大似然估计。
第4题
设总体X服从指数分布,其概率密度为
其中参数θ>0为未知.又设(X1,X2…,Xn)是来自X的样本,试判断和nZ=n[min(X1,X2,…,Xn)]作为θ的无偏估计量哪个更有效?
第5题
某种电子器件的寿命(小时)具有数学期望μ(未知),方差σ2=400.为了估计μ,随机地取n只这种器件,在时刻t=0投入测试(设测试是相互独立的)直到失效,测得其寿命为X1,X2,…,Xn,以作为μ的估计,为了使,问n至少为多少?
第6题
某种电子器件的寿命(小时)具有数学期望u(未知),方差σ2=400.为了估计u,随机地取n只这种器件,在时刻t=0投入测试(设测试是相互独立的)直到失效,测得其寿命为X1,X2,…,Xn,以作为u的估计.为了使,问n至少为多少?
第8题
其中θ>0未知,从总体中抽取一容量为n的样本X1,X2,…,Xn
(1)证明
(2)求θ的置信水平为1-α的单侧置信下限;
(3)某种元件的寿命(以小时计)服从上述指数分布,现从中抽得一容量n=16的样本,测得样本均值为5010(h),试求元件的平均寿命的置信水平为0.90的单侧置信下限
第9题
其中λ>0为未知参数,(X1,X2,…,Xn)为来自该总体的样本,求元件在T0时刻仍能正常工作概率的最大似然估计.