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[主观题]
某p型半导体掺杂浓度NA=1016cm-3,少子寿命τn=10μs,在均匀光的照射下产生非平衡载流子,其产生率g=1018cm-3·s
某p型半导体掺杂浓度NA=1016cm-3,少子寿命τn=10μs,在均匀光的照射下产生非平衡载流子,其产生率g=1018cm-3·s,试计算室温时光照情况下的费米能级并和原来无光照时的费米能级比较。(设本征载流子浓度ni=1010cm-3)。
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某p型半导体掺杂浓度NA=1016cm-3,少子寿命τn=10μs,在均匀光的照射下产生非平衡载流子,其产生率g=1018cm-3·s,试计算室温时光照情况下的费米能级并和原来无光照时的费米能级比较。(设本征载流子浓度ni=1010cm-3)。
第1题
施主浓度Nd=1015cm-3的N型硅.由于光的照射产生了非平衡载流子△n=△p=1014cm-3,试计算这种情况下准费米能级的位置,并与原来的费米能级进行比较.
第6题
(2)求产生的空穴浓度为1015cm-3的GL值,它的电导率和费米能级是多少?
第8题
某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏压的pn结附近),试求此时电子—空穴的产生率是多大(设ni=1.5×1010cm-3)?